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如何正确的使用工业ct

分类:新闻中心 发布时间:2021-09-03 11173次浏览

  工业CT测量误差的主要来源分析可以从以下几个方面入手。尤其需要注意的是,在使...

  贵港工业CT测量误差的主要来源分析可以从以下几个方面入手。尤其需要注意的是,在使用高精度外形尺寸测量结果校准工业CT数据时,尤其是使用平板探测器的系统,需要进行校准。尺寸应包括样品的 XY 和 XZ 平面(即平行和垂直于检测器的平面)。工业CT数据中单个像素的大小在这两个方向上往往不相等,这取决于重建矩阵的选择。

  


  因此,在工业CT扫描过程中,尽量避免样品上下端面与射线平行放置,或尽量避免样品上下端面与旋转轴垂直,否则样本上下端面采样不足,会导致SDK重构。采样不足造成的重构可以通过改变样品放置方式来解决。

  在投影重建图像的过程中,主要影响因素是由射线硬化和射线散射引起的图像,硬化和散射伪影,导致图像的灰度分布偏离真实分布,带来困难。到随后的测量和阈值样式。如果伪像没有得到正确校正,测量的可靠性将降低。

  一般来说,为了减少射线硬化的影响,可以通过在采集数据时放置前置过滤器来调整,也可以通过后续的硬化校正算法进行改进。


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